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Proton Radiation Damage Experiment on P-Channel CCD for an X-ray CCD camera onboard the Astro-H satellite

机译:X射线CCD p通道CCD的质子辐射损伤实验   astro-H卫星上的摄像头

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摘要

We report on a proton radiation damage experiment on P-channel CCD newlydeveloped for an X-ray CCD camera onboard the Astro-H satellite. The device wasexposed up to 10^9 protons cm^{-2} at 6.7 MeV. The charge transfer inefficiency(CTI) was measured as a function of radiation dose. In comparison with the CTIcurrently measured in the CCD camera onboard the Suzaku satellite for 6 years,we confirmed that the new type of P-channel CCD is radiation tolerant enoughfor space use. We also confirmed that a charge-injection technique and loweringthe operating temperature efficiently work to reduce the CTI for our device. Acomparison with other P-channel CCD experiments is also discussed.
机译:我们报告了针对Astro-H卫星上的X射线CCD相机新开发的P通道CCD的质子辐射损伤实验。该装置在6.7MeV下暴露至10 ^ 9质子cm ^ {-2}。测量电荷转移效率(CTI)与辐射剂量的关系。与朱雀卫星上的CCD摄像机进行6年的当前CTI测试相比,我们确认了新型P通道CCD具有足够的辐射耐受性,可用于太空用途。我们还证实,电荷注入技术和降低工作温度可有效降低设备的CTI。还讨论了与其他P通道CCD实验的比较。

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